Photo 1/1

Vous en avez un à vendre ?

Vendez le vôtre

NanoScience and Technology : Méthodes de sonde à balayage appliquée VIII : Numérisation...

État :

Neuf

Prix :

101,70 USD

Environ95,21 EUR

Livraison :

Gratuit Expedited Shipping from outside US. Afficher les détailspour la livraison

Lieu où se trouve l'objet : Bangkok, Thaïlande

Délai de livraison :

Estimé entre le mar. 2 juil. et le mer. 10 juil. à 43230

Retours :

Retour sous 30 jours. L'acheteur paie les frais de retour. Afficher les détails- pour en savoir plus sur les retours

Paiements :

Achetez en toute confiance

Vendeur Top Fiabilité

Vendeur de confiance, livraison rapide et retours facilités.

En savoir plus- Top Fiabilité Plus - la page s'ouvre dans une nouvelle fenêtre ou un nouvel onglet

Garantie client eBay

Obtenez un remboursement si vous ne recevez pas l'objet que vous avez commandé.

En savoir plusGarantie client eBay - la page s'ouvre dans une nouvelle fenêtre ou un nouvel onglet

Détails sur le vendeur

muaythai-fighting (10470)
98,6% d'évaluations positives

Inscrit comme vendeur professionnel

Signaler cet objet - La page s'ouvre dans une nouvelle fenêtre ou un nouvel onglet

Le vendeur assume l'entière responsabilité de cette annonce.

Numéro de l'objet eBay :362970018854

Dernière mise à jour le 10 nov. 2022 07:42:53 CET. Afficher toutes les modificationsAfficher toutes les modifications

Caractéristiques de l'objet

État: Neuf: Livre neuf, n'ayant jamais été lu ni utilisé, en parfait état, sans pages manquantes ni ...

ISBN: 9783540740797

EAN: 9783540740797

Subject Area: Technology & Engineering, Science

Publication Name: Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques

Publisher: Springer Berlin / Heidelberg

Item Length: 9.3 in

Subject: Spectroscopy & Spectrum Analysis, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Physical & Theoretical, Nanotechnology & Mems, Microscopes & Microscopy

Publication Year: 2008

Series: Nanoscience and Technology Ser.

Type: Textbook

Format: Hardcover

Language: English

Item Height: 0.4 in

Author: H. Fuchs, Bharat Bhushan

Item Weight: 33.5 Oz

Item Width: 6.1 in

Number of Pages: Lix, 465 Pages

À propos de ce produit

Product Information

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides, tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures, technical polymers, and near eld optics.

Product Identifiers

Publisher

Springer Berlin / Heidelberg

ISBN-10

3540740791

ISBN-13

9783540740797

eBay Product ID (ePID)

63628291

Product Key Features

Number of Pages

Lix, 465 Pages

Language

English

Publication Name

Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques

Publication Year

2008

Subject

Spectroscopy & Spectrum Analysis, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Physical & Theoretical, Nanotechnology & Mems, Microscopes & Microscopy

Type

Textbook

Subject Area

Technology & Engineering, Science

Author

H. Fuchs, Bharat Bhushan

Series

Nanoscience and Technology Ser.

Format

Hardcover

Dimensions

Item Height

0.4 in

Item Weight

33.5 Oz

Item Length

9.3 in

Item Width

6.1 in

Additional Product Features

Intended Audience

Scholarly & Professional

Dewey Edition

Number of Volumes

1 Vol.

Illustrated

Yes

Dewey Decimal

502.82

Lc Classification Number

Tk7875

Table of Content

Background-Free Apertureless Near-Field Optical Imaging.- Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50-nm Microelectronics Technology Nodes.- Near Field Probes: From Optical Fibers to Optical Nanoantennas.- Carbon Nanotubes as SPM Tips: Mechanical Properties of Nanotube Tips and Imaging.- Scanning Probes for the Life Sciences.- Self-Sensing Cantilever Sensor for Bioscience.- AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication.- Cantilever Spring-Constant Calibration in Atomic Force Microscopy.- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications.- Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale.- Probing Electrical Transport Properties at the Nanoscale by Current-Sensing Atomic Force Microscopy.

2008

Description de l'objet fournie par le vendeur

Informations sur le vendeur professionnel

THAI BOOK WORLD

Thailand

Je certifie que toutes mes activités de vente seront conformes à toutes les lois et réglementations de l'UE.

Le vendeur assume l'entière responsabilité de cette annonce.

Numéro de l'objet eBay :362970018854

Dernière mise à jour le 10 nov. 2022 07:42:53 CET. Afficher toutes les modificationsAfficher toutes les modifications

Livraison et expédition

Lieu où se trouve l'objet :

Bangkok, Thaïlande

Destination :

Monde entier

Exclus :

Boîte postale, APO/FPO, Amérique centrale et Caraïbes, Amérique du Sud, Guam, Protectorats américains, Russie, Ukraine

Changer de pays :

Code postal :

Livraison et expédition	à	Service	Livraison*Afficher les instructions de livraison
Livraison gratuite	États-Unis	Expedited Shipping from outside US	Estimé entre le mar. 2 juil. et le mer. 10 juil. à 43230

*Les dates de livraison estimées - la page s'ouvre dans une nouvelle fenêtre ou un nouvel onglet prennent en compte le délai d'expédition indiqué par le vendeur, le code postal de l'expéditeur, le code postal du destinataire et la date d'acceptation de l'offre. Elles dépendent du service de livraison sélectionné et de la date de réception du paiement. Les délais de livraison peuvent varier, notamment pendant les périodes de pointe.Instructions de livraison *Les dates de livraison estimées prennent en compte le délai d'expédition indiqué par le vendeur, le code postal de l'expéditeur, le code postal du destinataire et la date d'acceptation de l'offre. Elles dépendent du service de livraison sélectionné et de la date de réception du paiement. Les délais de livraison peuvent varier, notamment pendant les périodes de pointe.

Délai d'expédition

Envoi sous 3 jours ouvrés après réception du paiement.

Taxes

Des taxes pourront être appliquées lors de la finalisation de l'achat. En savoir plusEn savoir plus sur le paiement des taxes sur les achats eBay